研究人員首先分析了荷蘭奈梅亨大學醫學中心遺傳檢測項目中的外顯子組測序結果，包括820名輕度到重度智力障礙兒童及其父母的數據，隨后又分析了已發表研究中約1300個家庭（雙親和孩子）的測序數據。

從這2104個家庭中出現的2637個新生突變中，研究人員發現了10個基因出現新生功能缺失突變過表達，其中包括染色質修飾、脆性X染色體、突觸可塑性以及胚胎發育通路相關的基因。這項研究結果近期發表在《Nature Neuroscience》上。

文章共同通訊作者、奈梅亨大學醫學中心人類遺傳學研究員Christian Gilissen等人寫道，“我們的研究表明了新生突變對一系列神經發育表型的影響。大量罕見的顯性發育障礙基因還有待進一步被鑒定。”

10個新的智力障礙易感基因的發現過程

研究小組選取患有智力障礙的461個男孩和359個女孩以及他們的父母，利用安捷倫SureSelect富集系統分離基因組的蛋白編碼序列，利用Illumina HiSeq測序儀進行測序，外顯子組測序平均深度為75X。

研究人員發現了1083個疑似新生突變，這些突變影響了915個基因。他們又分析了基因特異性突變率，發現了18個已知智力障礙基因在患者組中受到新生突變不成比例的影響。

為了找到新的候選基因，研究小組去除掉攜帶有已知智力障礙基因的個體，再次進行分析，將候選基因縮小到4個基因，分別為DLG4、PPM1D、SOX5和TCF20，在智力障礙兒童中這四個基因頻繁地出現新生突變。

研究人員進一步結合已發表研究中測序家庭的數據，共對2104個家庭的測序數據進行分析，結果發現了另外6個候選基因。

在1471個沒有已知智力障礙基因突變的個體中，研究人員對受1400個新生突變影響的1235個基因進行meta分析，結果在較小樣本集合中發現了4個基因（DLG4、PPM1D、SOX5、TCF20），以及另外6個基因：RAC1、SMAD6、SON、TLK2、TRIP12和SYNCRIP，在智力障礙患者中這些基因會出現更多的功能缺失性新生突變。

研究小組指出，在一些基因中出現的新生突變可能會產生重疊的臨床特征，例如在兩個接受檢測的小孩中發現了TLK2基因的突變，這兩個孩子具有相似的面部先天性畸形。

這項新分析中鑒定出的許多受新生突變影響的基因和通路，與智力障礙、自閉癥譜系障礙（ASD）或其他神經發育疾病患者中已經發現的基因重疊。

但文章作者表示，他們鑒定出的新基因中只有兩個基因與另一篇發布在bioRxiv上的發育障礙研究檢測到的受新生突變影響的基因重疊，不認同神經發育疾病中大部分受新生突變影響的基因已經被鑒定出來了的這種觀點。